1.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板上零件：電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
　　2.ICT能夠先期找出制程不良所在，如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題，回饋到制程的改善。
　　3.ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考。可以有效降低人員對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
　　4.能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)，生產(chǎn)管理人員加以分析，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。
　　正是由于ICT以上功能所帶給客戶的巨大效益，才有今天ICT得已廣泛運(yùn)用的現(xiàn)實(shí)！

二、ICT特別功能：
1.電解電容極性測(cè)試技術(shù)：
　　電解電容反向、漏件100%可測(cè)
　　并聯(lián)電解電容反向、漏件100%可測(cè)
　　電解電容極性測(cè)試技術(shù)的工作原理：
1.1ICT就是利用第三根針施加一激發(fā)訊號(hào)（Trigger Signal）于電解電容頂端，并量測(cè)第三點(diǎn)與正或負(fù)端間的反應(yīng)訊號(hào)（如圖三）
1.2ICT利用DSP（數(shù)字訊號(hào)處理）技術(shù)加以運(yùn)算后，轉(zhuǎn)換成一組向量(Vectors)透過(guò)DFT(Discrete Fourier Transform，離散式傅立葉變換)及FFT(Fast Fourier Transform，快速傅立葉變換）等運(yùn)算方式，將量得的反應(yīng)訊號(hào)由 t(time) domain（示波器訊號(hào)）轉(zhuǎn)換成 f(frequency) domain（頻譜分析儀訊號(hào)）的向量組。
1.3經(jīng)由Learning取得一組標(biāo)準(zhǔn)向量值，而后待測(cè)物(DUT---Device Under Test)所量測(cè)的值(如圖五)再經(jīng)Pattern Match（特征辨識(shí)比對(duì)技術(shù)）與原標(biāo)準(zhǔn)值比對(duì)，以決定待測(cè)物極性正確與否。
Pattern Match的應(yīng)用如：指紋辨識(shí)、偽鈔辨識(shí)、視網(wǎng)膜辨識(shí)等均是。